测试治具数据转移，产量增加，降低成本，小故障检修时间，高速测试，减少误判错误，减少操作费用，减少维修成本。什么原因造成测试治具测试电路开路不良的?小编总结出5点：

什么原因造成测试治具测试电路开路不良的?

测试治具测试电路开路不良只针对某一短路群而言，例如：有短路群：【1，4，10，12】，测试治具测试出1，10开路不良，表示PCB上测试点1与测试点10之间电阻大于55Ω(或55-85Ω)，可以用万用表在PCB上的测试点上进行验证。产生这种现象的原因有以下5点：

1、测试治具测试点上有松香等绝缘物品。

2、继电器、开关或变阻器的位置有变化。

3、某一元器件漏装、焊接不良、错件等。

4、测试治具上铜箔断裂，或ViaHloe与铜箔之间open。

5、测试治具的测试针坏掉了，或针形与待测板上的测试点不适合。

测试治具是以小电流，小电压进行小信号静态检测，能够有效的防止电路板，因有短路等故障通电后烧坏器件或电路板，将生产损耗大大降低，节约成本。尤其是将电路板故障发生在生产过程中，成本低约是发现在用户端成本的百分之一。测试治具适应批量化，规模化的生产PCB的产物，可以快速检测出故障，并可以指示出故障所在地方。